KL-E400高温老化系统老化温度支持45~400℃,具有温度控制精度高,温度均匀性高,温度稳定性高,升降温速度快等特点,系统支持定制扩展,可搭配测试硬件进行芯片高温电性试验与评估。
系统配置三色灯报警功能,实时显示设备运行状态
系统配备6个高温温区,每个温区可独立运行
系统温腔体采用特殊风道设计,腔体内各区域受热均匀
上位机软件支持图形化展示每块腔体的工作状态
上位机软件支持温度判和超温保护功能,实时显示各个腔体的温度数据
上位机软件支持选择每个腔体的温度曲线进行在线画图
支持温控程序的在线编辑,配置温度循环时长、温度条件设置、数据采样间隔等
数据支持保存在客户服务器或数据库
可支持上位机软件定制开发和系统接入
系统采用模块化设计,可根据客户后续使用需求进行功能扩展和升级服务
卡伦测控主营设备有:半导体芯片可靠性测试设备、MEMS标定(量产、工程验证)、可靠性环境模拟试验设备,欢迎联系我们获取设备资料和报价!
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